Springen naar inhoud

XRF


  • Log in om te kunnen reageren

#1

Demon van Laplace

    Demon van Laplace


  • >25 berichten
  • 98 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 07 februari 2005 - 15:50

Ik ben wat over XRF aan het studeren en ik vroeg me iets af:

De X-straalfluorescentiestraling die geproduceerd wordt door het monster valt door de collimator in op een analysatorkristal waarna er reflectie optreedt volgens de wet van Bragg. Ik vroeg me af of deze secundaire straling ipv te reflecteren niet eerder zal dienen als primaire straling tov het analysatorkristal waardoor er straling ontstaat die karakteristiek is voor het kristal en eigenlijk je meetresultaten enkel nog iets zullen zeggen over het kristal en niet meer over je monster.

Of zoek ik het te ver? :)

Dit forum kan gratis blijven vanwege banners als deze. Door te registeren zal de onderstaande banner overigens verdwijnen.

#2

DrQuico

    DrQuico


  • >1k berichten
  • 2952 berichten
  • VIP

Geplaatst op 07 februari 2005 - 19:01

Of zoek ik het te ver?


Volgens mij wel, maar ik ben geen expert.
Als ik het goed heb schiet je met electronen op je monster. Hierdoor worden er electronen uit de binnenste schil geschoten. De electronen die vervolgens terugvallen vanuit hoger gelegen schillen produceren de röntgenstraling.

Ik neem aan dat je geïnteresseerd bent in de golflengte en intensiteit van deze straling.
Je gebruikt de bekende eigenschappen van het analysatorkristal om de golflengte te bepalen.

nλ = 2dsinθ

d is een bekende grootheid voor je analysorkristal, dus aan de hand van de hoek θ kun je λ bepalen.

Eigenlijk is het omgekeerd aan röntgendiffratie. Hierbij is λ bekend en kan d worden bepaald. (@rwwh: toch?)

#3

Demon van Laplace

    Demon van Laplace


  • >25 berichten
  • 98 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 07 februari 2005 - 19:28

Je begrijpt me niet helemaal denk ik.

Even verduidelijken: je beschiet het monster met X-straling (niet met elektronen). Deze primaire X-straling zorgt er dan voor dat er, zoals je zegt, een secundaire X-straling ontstaat welke gericht wordt door middel van een collimator op een analysator kristal. Dit analysator kristal zal dan volgens de wet van Bragg een bepaalde golflengte reflecteren naar de detector. Wat ik me nu afvroeg: eigenlijk komt het erop neer dat je het kristal ook bestraald met X-straling: deze moet dan toch ook fluorescentie kunnen ondergaan want het is toch ook materie zoals het monster? Op die manier zou je toch op zijn minst een bijdrage van de karakteristieke lijnen van het analysatorkristal met je detector moeten vinden.

Hopelijk was ik wat duidelijker :)

#4

DrQuico

    DrQuico


  • >1k berichten
  • 2952 berichten
  • VIP

Geplaatst op 07 februari 2005 - 19:56

Volgens mij komt het dan doordat de energie van de röntgenstraling die voortkomt uit de fluorescentie te laag is om eenzelfde effect in je analysatorkristal te bewerkstelligen.
De energie van de röntgenbundel die je op je monster schiet is veel hoger.

#5

rwwh

    rwwh


  • >5k berichten
  • 6847 berichten
  • Moderator

Geplaatst op 07 februari 2005 - 21:04

In een Röntgenbuis (Zie Röntgenbuis op Wikipedia) worden elektronen op een metaal afgeschoten. Daarbij wordt Röntgenstraling gemaakt. In een XRF machine laat men deze straling op een monster vallen. Daar worden door de hoog-energetische straling uit de buis binnen-elektronen uit de atomen in het monster geschoten. Bij het terugvallen van buiten-elektronen naar die binnenschalen wordt opnieuw Röntgenstraling gemaakt, van een iets langere golflengte.

Waarom vindt er op het monster geen diffractie plaats? Het monster is niet kristallijn, en het vertoont daarom geen Bragg-diffractie. In plaats daarvan wordt een HEEL KLEIN deel van de opvallende straling omgezet in fluorescente straling (zo 0.01% of zo).

Nu de analysator: Dat is een kristallijn materiaal. Helemaal geoptimaliseerd om diffractie te vertonen. Waarschijnlijk reflecteert dat materiaal wel 50% van de straling van de te selecteren golflengte. Zelfs als de analysator ook fluoresceert, dan nog is de intensiteit daarvan te verwaarlozen. En we doen nog een selectie: de gediffracteerde straling van de analysator gaat precies 1 richting op, naar de detector. En de fluorescentie gaat weer alle kanten op. Als we dus niet te dichtbij meten, meten we niet zoveel fluorescentie.

#6

Demon van Laplace

    Demon van Laplace


  • >25 berichten
  • 98 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 07 februari 2005 - 22:23

Ok, merci voor de antwoorden





0 gebruiker(s) lezen dit onderwerp

0 leden, 0 bezoekers, 0 anonieme gebruikers

Ook adverteren op onze website? Lees hier meer!

Gesponsorde vacatures

Vacatures