Springen naar inhoud

Berekeningen die de XRF maakt.


  • Log in om te kunnen reageren

#1

Ghris

    Ghris


  • >25 berichten
  • 84 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 14 april 2008 - 14:40

Hallo,

Ik heb laatst met de XRF gewerkt. Heel makkelijk natuurlijk, gewoon een cupje vullen met (in mijn geval) cacaopoeder en dan rolt er een leuk getal uit wat slaat op het totaal ijzer in de cacaopoeder.

Nu vraag ik mij alleen af hoe de XRF dit berekent. Ik ben zelf wel goed bekend nu met de theoretische achtergrond van het proces zelf, maar de berekening die gemaakt wordt hiermee is voor mij abakadabra ;)

Weet iemand hoe de XRF de straling omzet in de getallen, en wat die getallen dan precies betekenen? Mijn uitslag van de standaard is 423.

Dit forum kan gratis blijven vanwege banners als deze. Door te registeren zal de onderstaande banner overigens verdwijnen.

#2

gadget

    gadget


  • >25 berichten
  • 77 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 14 april 2008 - 14:58

Ik heb wat vooor je gevonden:

http://en.wikipedia....Li.29_detectors

Ik heb gewerkt met een ED-XRF met een Si(Li) detector. dit is een halfgeleiderdetector die eigenlijk de straling telt.

#3

rwwh

    rwwh


  • >5k berichten
  • 6847 berichten
  • Moderator

Geplaatst op 14 april 2008 - 20:21

Verschillende systemen voor XRF kunnen verschillende niveau's van calibratie hebben. Een heel goed systeem zal je meteen een concentratie kunnen vertellen doordat het systeem zichzelf continu calibreert.

Het basisgetal is gewoon een aantal X-ray fotonen dat de detector heeft gezien van de juiste energie. Daarnaast moet je een soortgelijk calibratiemonster meten. Net als bij AAS of GC, of ....

#4

Ghris

    Ghris


  • >25 berichten
  • 84 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 15 april 2008 - 08:13

Verschillende systemen voor XRF kunnen verschillende niveau's van calibratie hebben. Een heel goed systeem zal je meteen een concentratie kunnen vertellen doordat het systeem zichzelf continu calibreert.

Het basisgetal is gewoon een aantal X-ray fotonen dat de detector heeft gezien van de juiste energie. Daarnaast moet je een soortgelijk calibratiemonster meten. Net als bij AAS of GC, of ....

hmm, wordt het niet uitgedrukt in ppm(parts per million)? Je kan natuurlijk niks afleiden aan het aantal fotonen met de juiste energie als je niet hebt ingewogen (hetgeen wij ook niet doen).

#5

rwwh

    rwwh


  • >5k berichten
  • 6847 berichten
  • Moderator

Geplaatst op 15 april 2008 - 21:09

parts per million zou kunnen, dat is een concentratiemaat. Je moet in de handleiding van je apparaat kijken....

#6

Ghris

    Ghris


  • >25 berichten
  • 84 berichten
  • Ervaren gebruiker

Geplaatst op 16 april 2008 - 18:57

Hmmm, ik heb het even aan een collega gevraagd, maar die uhm, heeft zeg maar teveel informatie in zn leven binnengekregen, dus misschien dat ie wat dingen verward met elkaar.

Wat zijn uitleg min of meer was, is dat de xrf een grafiek uitzet en dan kijkt naar de piekoppervlaktes. Dit klinkt opzich wel redelijk logisch, aangezien je geen inweeg hebt en dat zo de elementen die niet van toepassing zijn makkelijk zijn uit te gummen.
In dit geval heb je niet echt een berekening denk ik, hoogstens oppervlakte berekening. Wel een leuke uitleg die denk ik toch wel menig MBO leraren zal verbazen, als ik het in een leuk verhaaltje breng ;) (die waren al verbaast dat ik sowieso met de xrf werkte... lol)





0 gebruiker(s) lezen dit onderwerp

0 leden, 0 bezoekers, 0 anonieme gebruikers

Ook adverteren op onze website? Lees hier meer!

Gesponsorde vacatures

Vacatures