Springen naar inhoud

- - - - -

Electron microscopy enters the picometer scale


  • Log in om te kunnen reageren

#1

Physics.org-feed

    Physics.org-feed


  • >1k berichten
  • 2552 berichten
  • Nieuwsbot

Geplaatst op 24 juli 2008 - 22:06

Jülich scientists have succeeded in precisely measuring atomic spacings down to a few picometres using new methods in ultrahigh-resolution electron microscopy. This makes it possible to find out decisive parameters determining the physical properties of materials directly on an atomic level in a microscope. Knut Urban from Forschungszentrum Jülich, a member of the Helmholtz Association, reports on this in the latest issue (25 July) of the scientific high-impact journal Science.

Bekijk het gehele artikel

Dit forum kan gratis blijven vanwege banners als deze. Door te registeren zal de onderstaande banner overigens verdwijnen.




0 gebruiker(s) lezen dit onderwerp

0 leden, 0 bezoekers, 0 anonieme gebruikers

Ook adverteren op onze website? Lees hier meer!

Gesponsorde vacatures

Vacatures