Aantal ladingsdragers in een extrinsieke halfgeleider

Moderator: physicalattraction

Reageer
Gebruikersavatar
Berichten: 111

Aantal ladingsdragers in een extrinsieke halfgeleider

Hallo iedereen,

bij een extrinsieke halfgeleider van het P-materiaal zijn er al reeds gaten aanwezig door het doperen van een 3 waardig element.

door thermische generatie worden er nog meer gaten gecreëerd.

In mijn boek staat de volgende afleiding.

-We stellen dat het systeem in evenwicht is en dus dat er bij een bepaalde temperatuur evenveel gaten worden gecreëerd als gerecombineëerd : G(T)=R(T)

- We nemen dan aan dat de thermische generatie weinig of niet zal beïnvloed worden door het doperen van een 3waardig element.

Dus G(T)extinsieke = G(T) intrinsieke

en dus ook dat R(T)extinsieke = R(T) intrinsieke

- Men zegt nu dat de recombinatie evenredig is met het product van het aantal vrije positieve en negatieve ladingsgdragers. Immers , hoe meer gaten en/of elektronen er aanwezig zijn des te groter de kans op recombiniatie.

Ze drukken die uit door de volgende vergelijking:
\(R(T)=k(T)\cdot n0\cdot p0\)
Waarbij n0 en p0 staan voor het aantal vrije positieve en negatieve ladingsgdragers in de evenwichtstoestand bij een zekere temperatuur.

Wat ik niet begrijp aan deze vergelijking is waarom ze nu juist het product nemen van de vrije positieve en negatieve ladingsgdragers .

Kan iemand mij dit uitleggen?

Alvast bedankt.

Reageer